美國ZMIKE 激光測徑儀
簡要描述：
美國ZMIKE 激光測徑儀
產品時間：2020-03-12
ZMIKE臺式外形尺寸激光測徑儀， 測量精度高，測量速度快，可單次或連續(xù)測量，可滿足不同測量應用領域。與傳統(tǒng)的接觸式外形幾何尺寸測量比較，BenchMike采用了激光非接觸測量原 理。對原始測量數(shù)據(jù)自動采集、處理，數(shù)字顯示等技術，降低了由于測量方法及測量人員造成的誤差。從而提高了測量的精度。友好界面的顯示控制軟件及多種接口 用于數(shù)據(jù)及通訊，將使用者從繁重的測量中解放出來。特別是對于一些柔軟、易碎、輻射、高精度要求等傳統(tǒng)接觸測量束手無策的被測量任務，BenchMike 可提供滿意的測量。
主要特點：
◆ 測量精度高，測量速度快。可滿足不同測量應用領域
◆ 豐富的測量模式滿足不同的測量應用
◆ 采用了全新數(shù)據(jù)處理技術，圖形用戶交互(GUI)界面、快捷按鍵使測量更直觀，操作更便利
◆ 具有測量應用庫及自編輯被測量功能，配合夾具及多種輸入/出口，使儀表具備良好的測量擴充能力
◆ 單點及雙點自動校準功能，減少了使用條件的變化對測量的影響，使儀表維護更方便
測量原理：
采用激光掃描原理進行測量，如右圖所示，激光發(fā)生裝置產生的激光，照射在馬達驅動的高速旋轉棱鏡上，通過發(fā)射透鏡組在測試區(qū)間中形成標準掃描平行光束，測 試區(qū)間中的被測量物體遮擋光束形成的陰影，會在光電收集端形成信號的階躍，階躍寬度及位置決定了被測量物體的直徑及在測試區(qū)間位置等參數(shù)。
型 號 測量范圍 重復性 線性誤差 測量光斷面高度 測量光斷面景深 光點尺寸 掃描光速率
mm µm µm mm mm µm 次/秒
4025S 0.10 - 25.4 ±0.30 ±0.90 56.1 ±1.5 x 25 125 100
4025G 0.10 - 25.4 ±0.13 ±0.50 56.1 ±1.5 x 25 125 100
4050S 0.25 - 50 ±0.50 ±1.50 77.5 ±3 x 50 250 100
4050G 0.25 - 50 ±0.25 ±0.76 77.5 ±3 x 50 250 100
4100HP 2.50 - 100 ±0.30 ±0.8 -- -- 250 500
4120C 2.50 - 112 ±0.50 ±5.0 -- -- 250 500
4120F 0.25 - 115 ±0.80 ±5.0 -- -- 250 500
4120HP 0.25 - 115 ±0.50 ±3.8 -- -- 250 500
4130C 0.25 - 130 ±0.80 ±5.0 -- -- 250 500
2050 0.36 - 50 ±0.64 ±2.5 -- -- 250 500
2100 1.30 - 100 ±1.50 ±6.4 -- -- 250 500
2140 0.76 - 140 ±5.00 ±20 -- -- 250 500
2190 1.10 - 190 ±7.50 ±25 -- -- 250 500
2330 6.35 - 330 ±12.0 ±76 -- -- 250 500